系统简介
电极片的涂布面密度检测主要可通过低能x射线，kr85放射性同位素β射线或者近红外光谱这三类技术来实现。x射线无辐射污染，环保豁免，寿命长；β射线的广谱吸收特性，负极极片的涂布量检测用它来完成非常适合；近红外光谱适用于多组分材料。
产品特点
sysmart-bii系统扫描架的导轨、轴承、传动机构均采用进口部件，架体采用高强度合金钢自动焊接工艺，经振动消应处理；
系统采用德国产悬臂柜结构，操作灵活，位置紧凑，外观大方；
电控部件采用进口精密调速部件，探头数据处理采用双元针对性开发的智能扫描数据高速综合处理系统；
面密度检测探头核心部件均进口自欧美市场，同时采用前置放大探头内腔精密恒温技术，恒温精度±0.1℃。在此基础上通过空载标定、砝码式内部标定技术，使得探头的检测精度和稳定性达到了计量仪器的标准！
系统具有导轨自动补偿功能，可以彻底消除导轨的长期累积误差和机架可能存在的变形，使系统保持长期的检测精准性；
清洁型结构设计，不会对被测片材造成任何污染；
组合式双导辊结构可以实现极片的任意方向出入，同时最大限度减少对极片的弯曲损伤；
系统采用了纵横向分离算法，使得横幅面密度检测的真实性基本不受纵向面密度变化的影响。配合系统的快速扫描功能，使系统实现了对电极片面密度的全面有效检测；
系统具备电极片的纵横向面密度自动控制功能，通过自动调节涂布机构的涂布机械间隙实现面密度的自动调节！
